日前在儀器信息網(wǎng)上發(fā)布了相關(guān)儀器的國際標(biāo)準(zhǔn)政策，此政策的出臺標(biāo)志著行業(yè)的規(guī)范正在一步步的朝著國際化標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)*，對行業(yè)來說是一種非常好的兆頭。

　　該標(biāo)準(zhǔn)由中國科學(xué)技術(shù)大學(xué)工程科學(xué)學(xué)院黃文浩教授主持制訂，主要針對制約掃描探針顯微鏡在納米測量和納米加工方面的進(jìn)一步應(yīng)用的問題而制訂。掃描探針顯微鏡在納米測量和納米加工方面應(yīng)用時，經(jīng)常會遇到掃描速率較慢，漂移現(xiàn)象等制約。

　　黃文浩教授致力于為該問題提出解決方案，在2006年*向國際標(biāo)準(zhǔn)化組織ISO/TC201提出了“掃描探針顯微鏡漂移速率測量方法標(biāo)準(zhǔn)”提案。自2007年該提案正式立項后，經(jīng)過數(shù)年的努力，該標(biāo)準(zhǔn)終于在2011年順利通過，并于近日正式發(fā)布。

　　該標(biāo)準(zhǔn)通過將掃描探針顯微鏡作時納米/秒的漂移大小和方向測量出來，從而規(guī)范儀器使用。該標(biāo)準(zhǔn)定義了漂移速率術(shù)語，以及SPM漂移速率的測量方法和測量程序，并對儀器功能等進(jìn)行規(guī)范。該標(biāo)準(zhǔn)為掃描探針顯微鏡生產(chǎn)廠家提供了規(guī)范。同時也使得掃描探針顯微鏡在納米級測量中的應(yīng)用突破瓶頸，范圍更加寬廣和深入，推動納米測量技術(shù)的發(fā)展。

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